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1N推力D型試驗(yàn)探針

日期：2025-03-12 20:42

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摘要：1N推力D型試驗(yàn)探針適用于IP防護(hù)等級測試的第1位特征數(shù)數(shù)字4，試驗(yàn)探針施加1N的力作用到外殼的每一個部位，查看是否可進(jìn)入外殼內(nèi)部。

一、適用標(biāo)準(zhǔn)及條款：

,GB/T 4706.1-2024家用和類似用途電器的第1部分:通用要求

GB 7000.1-2015《燈具第1部分：一般要求與試驗(yàn)》9.2.0

IEC 60598-1:2020《Luminaries-Part1:General requirements and tests》clause9.2.0

二、試樣規(guī)格：

1、電子電氣產(chǎn)品

三、測試用途、原理：

1、試驗(yàn)用途：適用于IP防護(hù)等級測試的第1位特征數(shù)數(shù)字4。

2、測試原理：試驗(yàn)探針施加1N的力作用到外殼的每一個部位，查看是否可進(jìn)入外殼內(nèi)部。

四、測試設(shè)備介紹

1、1N推力D型試驗(yàn)探針：

技術(shù)參數(shù)：
1、探棒長度：100mm
2、探棒直徑：1mm
3、檔球直徑：35mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、制帶1±0.1N推力。

粵公網(wǎng)安備 44030602001687號

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